植物的冠層分析在生產(chǎn)和研究中有著很廣泛的應(yīng)用，最直接的方法就是全株收獲法，但由于實(shí)際應(yīng)用中工作量過(guò)大和對(duì)植物會(huì)造成破壞的原因，存在一定的局限性。盡管使用掃描儀提高了工作效率，但每片葉子的掃描過(guò)程仍較繁瑣。全株收獲法是規(guī)范的葉面積測(cè)定方法，*最準(zhǔn)確，因而被用來(lái)校正其它簡(jiǎn)便LAI測(cè)定方法并評(píng)判其它方法的準(zhǔn)確性。
產(chǎn)品用途
植物冠層分析儀SUNSCAN SS1-COM可普遍應(yīng)用于農(nóng)業(yè)消費(fèi)和農(nóng)業(yè)科研，為停止冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研討作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量質(zhì)量與光能應(yīng)用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測(cè)量、記錄,測(cè)量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒），適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。
